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Efeitos de desordem sobre as propriedades eletrônicas e vibracionais do grafeno

Marcus Moutinho (UFRJ)

A medição da quantidade de defeitos em sistemas baseados em grafeno é de extrema

importância tanto para o aprimoramento do conhecimento das propriedades físicas

quanto para o controle da produção em larga escala destes materias e espectroscopia

Raman tem sido usada com bastante frequência com este intuito em nanografite e

grafeno. Neste trabalho  mostraremos como cálculos teóricos, aliados a técnicas

experimentais, podem ser utilizados na caracterização e identificação de defeitos em

nanoestruturas nestes materiais. Em um primeiro trabalho, analisamos a razão entre as

intensidades das bandas D (relacionada à desordem) e G (característica de materiais

baseados em grafeno) no espectro Raman do grafeno,  para várias concentrações de

defeitos,  comparando  nossos resultados teóricos com dados experimentais obtidos

simultaneamente em colaboração com pesquisadores do Inmetro. Posteriormente, ainda

em colaboração com o grupo experimental, estendemos nossa análise não apenas para

as intensidades das bandas mas também para a área integrada destes picos e suas

larguras, que estão associadas ao tempo de vida do fônon correspondente.