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Anna Chame - IFUFF

Em experimentos recentes, tem sido observado que um filme fino sólido pode se aglomerar sobre um substrato,  se retraindo espontaneamente para minimizar sua energia. Nesse processo, uma borda mais alta pode se formar na fronteira do  filme, ou ainda buracos podem se formar no interior do filme.

Nós investigamos a dinâmica   de retração  de filmes sólidos com espessuras variando de duas a quatro camadas. Usamos um modelo ''solid-on solid´´ para fazer simulações,  onde  o transporte de matéria ocorre através de difusão de superfície. A  aglomeração do filme é  induzida pela razão entre a energia de interface filme-substrato e a energia de ligação entre as partículas que compõem o filme. Usando argumentos envolvendo a equação de difusão e  conservação de massa, a evoluçao temporal da posição da fronteira do filme  e da área descoberta do  substrato  são  obtidas e comparadas com os resultados da simulação.

Dois regimes de retração são encontrados, um onde a  evolução acontece camada-por-camada e o outro com formação de uma borda de  várias camadas na fronteira das áreas  descobertas.